此库用以解析验光设备数据,现已支持解析如下设备：

• crk8800
• iolmaster_500
• iolmaster_700
• kr_1
• nidek_al_scan
• nidek_ark1
• nidek_lm600p
• nidek_nt510
• nidek_rt5100
• supore
• topcon_ct_800
• topcon_cv_5000
• tomey_rc_5000

更多信息请联系:[email protected]

更新日志

1.0.6

新特性

• 支持自定义字段配置
• 支持 json 格式解析
• iosmaster 700 新增 晶体厚度解析

1.0.5

新特性

• 新增解析 tomey_rc_5000
• 新增解析 lsj

1.0.4

新特性

• 新增解析 iolmaster_500
• 新增解析 topcon_ct_800

1.0.3

优化

• 重构代码；压缩后打包体积减小2%

1.0.2

新特性

• 新增解析 nidek nt 530 眼压设备
• 新增解析 topcon ct 800 眼压设备

修复

• 修复 xml 解析自闭合标签引起的解析的问题